Ghaith Kazma, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2017)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38491/ |
Nom de la conférence: | 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017) |
Lieu de la conférence: | Strasbourg, France |
Date(s) de la conférence: | 2017-06-25 - 2017-06-28 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/newcas.2017.8010149 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2017.8010149 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:22 |
Citer en APA 7: | Kazma, G., Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (juin 2017). Analysis of SEU propagation in sequential circuits at RTL using Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017), Strasbourg, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2017.8010149 |
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