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Analysis of SEU propagation in sequential circuits at RTL using Satisfiability Modulo Theories

Ghaith Kazma, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria

Communication écrite (2017)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/38491/
Nom de la conférence: 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017)
Lieu de la conférence: Strasbourg, France
Date(s) de la conférence: 2017-06-25 - 2017-06-28
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/newcas.2017.8010149
URL officielle: https://doi.org/10.1109/newcas.2017.8010149
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:04
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:22
Citer en APA 7: Kazma, G., Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (juin 2017). Analysis of SEU propagation in sequential circuits at RTL using Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017), Strasbourg, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2017.8010149

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