Ghaith Bany Hamad, Ghaith Kazma, Otmane Aı̈t Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36967/ |
| Nom de la conférence: | Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016) |
| Lieu de la conférence: | Bremen, Germany |
| Date(s) de la conférence: | 2016-09-14 - 2016-09-16 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/fdl.2016.7880371 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880371 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:21 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Comprehensive non-functional analysis of combinational circuits vulnerability to single event transients [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (7 pages). https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880371 |
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