Ginette Monté-Genest, Bernard Antaki, Serge Patenaude, Yvon Savaria
, Claude Thibeault, Pieter Trouborst
Communication écrite (2001)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0769511228
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001)
Lieu de la conférence:
Marina Del Rey, CA, USA
Date(s) de la conférence:
2001-04-29 - 2001-05-03
Maison d'édition:
IEEE Comput. Soc
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27191
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Monté-Genest, G., Antaki, B., Patenaude, S., Savaria, Y., Thibeault, C., & Trouborst, P. (avril 2001). Tools for the characterization of bipolar CML testability [Communication écrite]. 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001), Marina Del Rey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vts.2001.923467
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