Ginette Monté-Genest, Bernard Antaki, Serge Patenaude, Yvon Savaria
, Claude Thibeault et Pieter Trouborst
Communication écrite (2001)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| ISBN: | 0769511228 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27191/ |
| Nom de la conférence: | 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001) |
| Lieu de la conférence: | Marina Del Rey, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2001-04-29 - 2001-05-03 |
| Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc |
| DOI: | 10.1109/vts.2001.923467 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vts.2001.923467 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:16 |
| Citer en APA 7: | Monté-Genest, G., Antaki, B., Patenaude, S., Savaria, Y., Thibeault, C., & Trouborst, P. (avril 2001). Tools for the characterization of bipolar CML testability [Communication écrite]. 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001), Marina Del Rey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vts.2001.923467 |
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