Evidence of valence band perturbations in GaAsN/GaAs(001): Combined variable-angle spectroscopic ellipsometry and modulated photoreflectance investigation

S. Turcotte, S. Larouche, J.-N. Beaudry, Ludvik Martinu, Rémo A. Masut, Patrick Desjardins, R. Leonelli

Article de revue (2009)

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Titre de la revue :
Physical Review B ( vol. 80 , no 8 )
Maison d'édition:
American Physical Society
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:18853
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Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:22
Citer en APA 7:
Turcotte, S., Larouche, S., Beaudry, J.-N., Martinu, L., Masut, R. A., Desjardins, P., & Leonelli, R. (2009). Evidence of valence band perturbations in GaAsN/GaAs(001): Combined variable-angle spectroscopic ellipsometry and modulated photoreflectance investigation. Physical Review B, 80(8). https://doi.org/10.1103/physrevb.80.085203

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