Evidence of valence band perturbations in GaAsN/GaAs(001): Combined variable-angle spectroscopic ellipsometry and modulated photoreflectance investigation

S. Turcotte, S. Larouche, J.-N. Beaudry, Ludvik Martinu, Rémo A. Masut, Patrick Desjardins et R. Leonelli

Article de revue (2009)

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Département:	Département de génie physique
Centre de recherche:	RQMP - Regroupement québécois sur les matériaux de pointe
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/18853/
Titre de la revue:	Physical Review B (vol. 80, no 8)
Maison d'édition:	American Physical Society
DOI:	10.1103/physrevb.80.085203
URL officielle:	https://doi.org/10.1103/physrevb.80.085203
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:	27 sept. 2024 11:23

Citer en APA 7:	Turcotte, S., Larouche, S., Beaudry, J.-N., Martinu, L., Masut, R. A., Desjardins, P., & Leonelli, R. (2009). Evidence of valence band perturbations in GaAsN/GaAs(001): Combined variable-angle spectroscopic ellipsometry and modulated photoreflectance investigation. Physical Review B, 80(8). https://doi.org/10.1103/physrevb.80.085203
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