Algorithmes de diagnostic d'une chaîne JTAG reconfigurable et tolérante aux pannes au sein de la technologie WaferIC

Safa Berrima

Mémoire de maîtrise (2014)

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Résumé

Dans ce mémoire, des algorithmes de diagnostic d'une chaîne JTAG reconfigurable et tolérante aux pannes dans un circuit intégré à l'échelle de la tranche (Wafer Scale Integrated Circuit WSI) sont présentés. Le circuit intégré en question, nommé WaferIC, est au cœur du projet de recherche DreamWaferTM qui implique plusieurs universités canadiennes. Ce projet vise à élaborer une plateforme de prototypage rapide pour les systèmes électroniques. C'est d'une certaine façon l'équivalent d'un circuit imprimé reprogrammable. Les circuits discrets, comme les FPGA et les mémoires par exemple seront déposés sur la surface du WaferIC. Ce dernier est un substrat programmable de la taille d'une tranche de Silicium et configurable qui réalise les interconnexions nécessaires entre les circuits et ce conformément à une spécification des interconnexions fournie par l'ingénieur en conception. Le WaferIC est composé de milliers de cellules connectées entre elles par des liens intercellulaires formant ainsi un vaste réseau d'interconnexions reconfigurable. Une chaîne de balayage conforme au protocole JTAG est utilisée pour configurer les cellules du WaferIC. Pour minimiser le temps de configuration, ce présent mémoire propose des algorithmes pour repérer le plus d'éléments (cellules et liens) fonctionnels possible au sein du WaferIC. La chaîne JTAG de configuration passera par ces éléments fonctionnels pour configurer toutes les cellules du WaferIC. Le premier objectif du diagnostic est d'établir un ensemble de chemins qui couvrent toutes les cellules et tous les liens intercellulaires du WaferIC. La taille des flux de bits JTAG qui créent ces chemins doit être minimale. Dans ce contexte, une étude théorique est faite dans ce mémoire pour prouver que la taille d'un flux de bits JTAG nécessaire pour établir un chemin de N cellules croit en O(N2). Un algorithme de recherche basé sur le principe de la dichotomie a aussi été implémenté dans le cadre de ce projet de maîtrise. Cet algorithme est appliqué sur les chemins trouvés non fonctionnels pour localiser le plus précisément possible les liens défectueux dans ces chemins. L'état des cellules sera déduit à partir des liens. En effet, une cellule est défectueuse si tous ses liens entrants ou sortants sont défectueux.

Programme:
génie électrique
Directeurs ou directrices:
Adresse URL de PolyPublie:
Université/École:
École Polytechnique de Montréal
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:1636
ORCID
Date du dépôt:
01 avr. 2015 14:57
Dernière modification:
08 oct. 2026 16:37
Citer en APA 7:
Berrima, S. (2014). Algorithmes de diagnostic d'une chaîne JTAG reconfigurable et tolérante aux pannes au sein de la technologie WaferIC [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/1636/

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