Claude Thibeault, Simon Pichette, Yves Audet
, Yvon Savaria, Hermann Rufenacht, Eric Gloutnay, Yves Blaquière, Fidele Moupfouma, Naïm Batani
Article de revue (2012)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(
vol.
59
,
no
6
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:14537
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:15
Citer en APA 7:
Thibeault, C., Pichette, S., Audet, Y., Savaria, Y., Rufenacht, H., Gloutnay, E., Blaquière, Y., Moupfouma, F., & Batani, N. (2012). On Extra Combinational Delays in SRAM FPGAs Due to Transient Ionizing Radiations. IEEE Transactions on Nuclear Science, 59(6), 2959-65. https://doi.org/10.1109/tns.2012.2222668
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