A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design

C. Thibeault, Y. Hariri, S. R. Hasan, C. Hobeika, Yvon Savaria, Yves Audet et F. Z. Tazi

Article de revue (2013)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/13029/
Titre de la revue:	Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (vol. 29, no 4)
Maison d'édition:	Springer
DOI:	10.1007/s10836-013-5393-9
URL officielle:	https://doi.org/10.1007/s10836-013-5393-9
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:52

Citer en APA 7:	Thibeault, C., Hariri, Y., Hasan, S. R., Hobeika, C., Savaria, Y., Audet, Y., & Tazi, F. Z. (2013). A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 29(4), 457-471. https://doi.org/10.1007/s10836-013-5393-9
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