Claude Thibeault, Y. Hariri, S. R. Hasan, C. Hobeika, Yvon Savaria
, Yves Audet, F. Z. Tazi
Article de revue (2013)
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Titre de la revue
:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications
(
vol.
29
,
no
4
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:13029
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:13
Citer en APA 7:
Thibeault, C., Hariri, Y., Hasan, S. R., Hobeika, C., Savaria, Y., Audet, Y., & Tazi, F. Z. (2013). A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 29(4), 457-471. https://doi.org/10.1007/s10836-013-5393-9
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