Claude Thibeault, Y. Hariri, S. R. Hasan, C. Hobeika, Yvon Savaria
, Yves Audet et F. Z. Tazi
Article de revue (2013)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/13029/ |
| Titre de la revue: | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (vol. 29, no 4) |
| Maison d'édition: | Springer |
| DOI: | 10.1007/s10836-013-5393-9 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/s10836-013-5393-9 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:49 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Hariri, Y., Hasan, S. R., Hobeika, C., Savaria, Y., Audet, Y., & Tazi, F. Z. (2013). A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 29(4), 457-471. https://doi.org/10.1007/s10836-013-5393-9 |
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