Yield formula for two-level hierarchical fault-tolerant integrated circuit

Claude Thibeault, Yvon Savaria et Jean-Louis Houle

Rapport technique (1988)

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Abstract

Hierarchical fault-tolerance -- A new yield formula -- Particular cases.

Mots clés

Circuits intégrés -- Tolérance aux fautes -- Modèles mathématiques

Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/10167/
Numéro du rapport:	EPM-RT-88-25
Date du dépôt:	07 févr. 2022 14:00
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:47

Citer en APA 7:	Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1988). Yield formula for two-level hierarchical fault-tolerant integrated circuit. (Rapport technique n° EPM-RT-88-25). https://publications.polymtl.ca/10167/

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