Claude Thibeault, Yvon Savaria
et Jean-Louis Houle
Rapport technique (1988)
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Abstract
Hierarchical fault-tolerance -- A new yield formula -- Particular cases.
Mots clés
Circuits intégrés -- Tolérance aux fautes -- Modèles mathématiques
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/10167/ |
| Numéro du rapport: | EPM-RT-88-25 |
| Date du dépôt: | 07 févr. 2022 14:00 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:55 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1988). Yield formula for two-level hierarchical fault-tolerant integrated circuit. (Rapport technique n° EPM-RT-88-25). https://publications.polymtl.ca/10167/ |
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