Documents dont l'auteur est "Ait Mohamed, Otmane"
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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Auteur ou autrice
Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2019). Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs. Reliability Engineering and System Safety, 182, 107-119. Lien externe
Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2017). Formal analysis of SEU mitigation for early dependability and performability analysis of FPGA-based space applications. Journal of Applied Logic, 25(47-68), 47-68. Lien externe
Kazma, G., Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (juin 2017). Analysis of SEU propagation in sequential circuits at RTL using Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017), Strasbourg, France. Lien externe
Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2017). Formal Methods Based Synthesis of Single Event Transient Tolerant Combinational Circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 33(5), 607-620. Lien externe
Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (septembre 2016). SMT-based reliability-aware synthesis for single event transients tolerant combinational circuits [Affiche]. Radiation Effects on Components & Systems Conference (RADECS 2016), Bremen, Germany. Non disponible
Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., Savaria, Y., & Thibeault, C. (octobre 2013). Early analysis of soft error effects for aerospace applications using probabilistic model checking [Communication écrite]. 2nd International Workshop of Formal Techniques for Safety-Critical Systems (FTSCS 2013), Queenstown, New Zealand. Lien externe
Al-bayati, Z., Ait Mohamed, O., Rafay Hasan, S., & Savaria, Y. (décembre 2012). Design of a C-element based clock domain crossing interface [Communication écrite]. 24th International Conference on Microelectronics (ICM 2012), Algiers, Algeria (4 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., Rafay Hasan, S., & Savaria, Y. (mai 2012). Identification of soft error glitch-propagation paths: Leveraging SAT solvers [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2012), Seoul, Korea, Republic of. Lien externe
Directeur ou directrice de recherche
Bany Hamad, G. (2017). Multilevel Modeling, Formal Analysis, and Characterization of Single Event Transients Propagation in Digital Systems [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Disponible