Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Affiche (2016)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39441/ |
| Nom de la conférence: | Radiation Effects on Components & Systems Conference (RADECS 2016) |
| Lieu de la conférence: | Bremen, Germany |
| Date(s) de la conférence: | 2016-09-19 - 2016-09-23 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:34 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (septembre 2016). SMT-based reliability-aware synthesis for single event transients tolerant combinational circuits [Affiche]. Radiation Effects on Components & Systems Conference (RADECS 2016), Bremen, Germany. |
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