Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria
Affiche (2016)
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Nom de la conférence:
Radiation Effects on Components & Systems Conference (RADECS 2016)
Lieu de la conférence:
Bremen, Germany
Date(s) de la conférence:
2016-09-19 - 2016-09-23
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39441
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:31
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (septembre 2016). SMT-based reliability-aware synthesis for single event transients tolerant combinational circuits [Affiche]. Radiation Effects on Components & Systems Conference (RADECS 2016), Bremen, Germany.
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