Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs

Khaza Anuarul Hoque, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria

Article de revue (2019)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/41258/
Titre de la revue:	Reliability Engineering and System Safety (vol. 182)
Maison d'édition:	Elsevier
DOI:	10.1016/j.ress.2018.10.011
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:38

Citer en APA 7:	Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2019). Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs. Reliability Engineering and System Safety, 182, 107-119. https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011
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