Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs

Khaza Anuarul Hoque, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria

Article de revue (2019)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/41258/
Titre de la revue :
Reliability Engineering and System Safety ( vol. 182 )
Maison d'édition:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.ress.2018.10.011
URL officielle:
https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:41258
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:51
Citer en APA 7:
Hoque, K. A., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2019). Dependability modeling and optimization of triple modular redundancy partitioning for SRAM-based FPGAs. Reliability Engineering and System Safety, 182, 107-119. https://doi.org/10.1016/j.ress.2018.10.011

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