Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria
Article de revue (2017)
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Titre de la revue
:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications
(
vol.
33
,
no
5
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38638
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:30
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2017). Formal Methods Based Synthesis of Single Event Transient Tolerant Combinational Circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 33(5), 607-620. https://doi.org/10.1007/s10836-017-5682-9
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