Monter d'un niveau |
Ce graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
Chaque lien représente une collaboration sur la même publication. L'épaisseur du lien représente le nombre de collaborations.
Utilisez la molette de la souris ou les gestes de défilement pour zoomer à l'intérieur du graphique.
Vous pouvez cliquer sur les noeuds et les liens pour les mettre en surbrillance et déplacer les noeuds en les glissant.
Enfoncez la touche "Ctrl" ou la touche "⌘" en cliquant sur les noeuds pour ouvrir la liste des publications de cette personne.
Yang, D. Q., Sacher, E., & Meunier, M. (2004). The early stages of silicon surface damage induced by pulsed CO₂ laser radiation: an AFM study. Applied Surface Science, 222(1-4), 365-373. Lien externe
Yang, D. Q., Meunier, M., & Sacher, E. (2004). Excimer laser manipulation and pattering of gold nanoparticles on the SiO₂/Si surface. Journal of Applied Physics, 95(9), 5023-5026. Lien externe
Yang, D. Q., Kabashin, A., Pilon-Marien, V. G., Sacher, E., & Meunier, M. (2004). Optical Breakdown Processing: Influence of the Ambient Gas on the Properties of the Nanostructured Si-Based Layers Formed. Journal of Applied Physics, 95(10), 5722-5728. Lien externe
Yang, D. Q., & Sacher, E. (2001). Argon Ion Treatment of the Dow Cyclotene 3022 Surface and Its Effect on the Adhesion of Evaporated Copper. Applied Surface Science, 173(1-2), 30-40. Lien externe
Yang, D. Q., & Sacher, E. (2001). Coalescence Kinetics of Copper Clusters on Highly Oriented Pyrolytic Graphite and Dow Cyclotene, as Determined by X-Ray Photoelectron Spectroscopy. Journal of Applied Physics, 90(9), 4768-4771. Lien externe
Yang, D. Q., Sun, Y., Wang, R.-F., & Guo, Y. (2001). Electrical Properties of Bis(4-Diethyannodithiobenzil)Nickel and Stearyl Alcohol Mixed Langmuir-Blodgett Films. Thin Solid Films, 385(1-2), 239-245. Lien externe
Yang, D. Q., Sacher, E., Griswold, E. M., & Smith, G. (2001). The Enhancement of the Adhesion of Copper Layers to Dow Cyclotene 3022 Through Metal Sputtering. Applied Surface Science, 180(3-4), 200-208. Lien externe
Yang, D. Q., Meunier, M., & Sacher, E. (2001). The Estimation of the Average Dimensions of Deposited Clusters From XPS Emission Intensity Ratios. Applied Surface Science, 173(1-2), 134-139. Lien externe