De Quan Yang, Michel Meunier
, Edward Sacher
Article de revue (2001)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Applied Surface Science
(
vol.
173
,
no
1-2
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26939
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Yang, D. Q., Meunier, M., & Sacher, E. (2001). The Estimation of the Average Dimensions of Deposited Clusters From XPS Emission Intensity Ratios. Applied Surface Science, 173(1-2), 134-139. https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2800%2900895-3
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