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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Boyogueno, A., Sawan, M., & Slamani, M. (2006). A BiCMOS 120 mW 11 GHz transimpedance amplifier dedicated for high-speed photoreceivers. Journal of Circuits, Systems and Computers, 15(4), 467-490. Lien externe
Sylla, I. T., Slamani, M., Kamińska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. Lien externe
Sylla, I.-T., Slamani, M., Kamińska, B., & Ghannouchi, F. M. (1997). Joint design and test consideration in high frequency circuits. Microwave and Optical Technology Letters, 16(3), 132-138. Lien externe
Slamani, M., & Kamińska, B. (1996). Fault observability analysis of analog circuits in frequency-domain. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing, 43(2), 134-139. Lien externe
Slamani, M., & Kamińska, B. (1995). Multifrequency analysis of faults in analog circuits. IEEE Design & Test of Computers, 12(2), 70-80. Lien externe
Slamani, M., Kamińska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe
Slamani, M., & Kamińska, B. (avril 1994). Multifrequency testability analysis for analog circuits [Communication écrite]. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, NJ, USA. Lien externe
Slamani, M. (1994). Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible
Slamani, M., & Kamińska, B. (mars 1992). Testing analog circuits by sensitivity computation [Communication écrite]. European Conference on Design Automation (EDAC 1992), Brussels, Belgium. Lien externe
Aubin, F., Slamani, M., Kamińska, B., & Robert, J.-M. (octobre 1991). Biolink: A New Myoelectric Pointing Device For interactive Computer Systems: Evaluation Of The Human Performance And Integrated Realization [Communication écrite]. Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Orlando, FL, USA. Lien externe
