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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Jin, Z.-F., Yang, M., Savaria, Y., & Wu, K. (juillet 2004). Analysis of gate modulation in nanoscale field effect transistors using an equivalent substrate integrated waveguide (SIW) model [Communication écrite]. 10th International Symposium on Antenna Technology and Applied Electromagnetics and URSI Conference (ANTEM/URSI 2004), Ottawa, Ont., Canada. Lien externe
Jin, Z.-F., & Laurin, J.-J. (juillet 2004). A distance-detecting method for planar near-field measurements using a printed ring resonator [Communication écrite]. 10th International Symposium on Antenna Technology and Applied Electromagnetics and URSI Conference (ANTEM 2004), Ottawa, Ont., Canada. Lien externe
Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits [Communication écrite]. Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003). Lien externe
Boudjella, A., Jin, Z.-F., & Savaria, Y. (octobre 2003). Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors [Communication écrite]. International Microprocesses and Nanotechnology Conference, Tokyo, Japan. Lien externe
Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. (2002). A practical approach to model long MIS interconnects in VLSI circuits. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 10(4), 494-507. Lien externe
Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. New approach to analyze interconnect delays in RC wire models [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1999). Non disponible
