Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors

Aissa Boudjella, Zhong-Fang Jin, Yvon Savaria

Communication écrite (2003)

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ISBN:
4891140402
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Microprocesses and Nanotechnology Conference
Lieu de la conférence:
Tokyo, Japan
Date(s) de la conférence:
2003-10-29 - 2003-10-31
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26076
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:28
Citer en APA 7:
Boudjella, A., Jin, Z.-F., & Savaria, Y. (octobre 2003). Electrical field analysis of nanoscaled field effect transistors [Communication écrite]. International Microprocesses and Nanotechnology Conference, Tokyo, Japan. https://doi.org/10.1109/imnc.2003.1268735

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