Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits

Zhong-Fang Jin, Jean-Jacques Laurin et Yvon Savaria

Communication écrite (2003)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/25830/
Nom de la conférence:	Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003)
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/ccece.2003.1226331
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:12

Citer en APA 7:	Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits [Communication écrite]. Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003). https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331
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