Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits

Zhong-Fang Jin, Jean-Jacques Laurin, Yvon Savaria

Communication écrite (2003)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
ISBN:
0780377818
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/25830/
Nom de la conférence:
Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ccece.2003.1226331
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25830
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Jin, Z.-F., Laurin, J.-J., & Savaria, Y. Comparison of Propagation Characteristics Between Single and Coupled Mis Interconnect Topologies in Vlsi Circuits [Communication écrite]. Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE 2003). https://doi.org/10.1109/ccece.2003.1226331

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