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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Gaudet, S., De Keyser, K., Lambert-Milot, S., Jordan-Sweet, J., Detavernier, C., Lavoie, C., & Desjardins, P. (2013). Three dimensional reciprocal space measurement by x-ray diffraction using linear and area detectors: Applications to texture and defects determination in oriented thin films and nanoprecipitates. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 31(2). Lien externe
Demeulemeester, J., Schrauwen, A., Nakatsuka, O., Zaima, S., Adachi, M., Shimura, Y., Comrie, C. M., Fleischmann, C., Detavernier, C., Temst, K., & Vantomme, A. (2011). Sn diffusion during Ni germanide growth on Ge1–xSnx. Applied Physics Letters, 99(21), 211905 (3 pages). Lien externe
Lavoie, C., Detavernier, C., Cabral, C. J., d'Heurle, F. M., Kellock, A. J., Jordan-Sweet, J., & Harper, J. M. E. (2006). Effects of additive elements on the phase formation and morphological stability of nickel monosilicide films. Microelectronic Engineering, 83(11-12), 2042-2054. Lien externe
Coia, C., Lavoie, C., D'Heurle, F. M., Detavernier, C., Desjardins, P., & Kellock, A. J. (mai 2005). Reactive diffusion in the Ni-Si system: Influence of Ni thickness on the phase formation sequence [Communication écrite]. 207th Meeting of the Electrochemical Society, Québec, Canada. Lien externe
Lavoie, C., Coia, C., D'heurle, F. M., Detavernier, C., Cabral, C., Desjardins, P., & Kellock, A. J. (juillet 2004). Reactive Diffusion in the Ni-Si System: Phase Sequence and Formation of Metal-Rich Phases [Communication écrite]. Diffusion in Materials: Dimat 2004 : 6th International Conference on Diffusion in Materials, Cracow, Poland. Lien externe
