Simon Gaudet, Koen De Keyser, Samuel Lambert-Milot, Jean Jordan-Sweet, Christophe Detavernier, Christian Lavoie, Patrick Desjardins
Article de revue (2013)
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Titre de la revue
:
Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films
(
vol.
31
,
no
2
)
Maison d'édition:
American Vacuum Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:13872
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:09
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:14
Citer en APA 7:
Gaudet, S., De Keyser, K., Lambert-Milot, S., Jordan-Sweet, J., Detavernier, C., Lavoie, C., & Desjardins, P. (2013). Three dimensional reciprocal space measurement by x-ray diffraction using linear and area detectors: Applications to texture and defects determination in oriented thin films and nanoprecipitates. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 31(2). https://doi.org/10.1116/1.4789984
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