Bernard Antaki
Masters thesis (1999)
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Cite this document: | Antaki, B. (1999). Étude de la défaillance des circuits bipolaires en mode courant et leur testabilité (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/8540/ |
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Abstract
Principes de base de la conception de circuits CML -- Conception des portes à niveaux multiples -- Défauts rencontrés dans les technologies bipolaires -- Pannes retrouvées dans les circuits CML -- Méthodes de test marquantes sur la détection des pannes -- Outil de caractérisation automatique de pannes -- Engin de l'outil et principes de base -- Méthodes de test adaptées aux circuits CML -- Injection de défectuosités et impact sur le comportement des circuits -- Test d'amplitude -- Puce d'évaluation des méthodes de test -- Méthodes de test évaluées par la puce -- Architecture de la puce -- Procédure de test.
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Additional Information: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/1017521975 |
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Department: | Département de génie électrique |
Date Deposited: | 04 Aug 2021 11:05 |
Last Modified: | 25 Aug 2021 14:59 |
PolyPublie URL: | https://publications.polymtl.ca/8540/ |
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