<  Back to the Polytechnique Montréal portal

Étude de la défaillance des circuits bipolaires en mode courant et leur testabilité

Bernard Antaki

Masters thesis (1999)

[img]
Preview
Published Version
Terms of Use: All rights reserved.
Download (5MB)
Cite this document: Antaki, B. (1999). Étude de la défaillance des circuits bipolaires en mode courant et leur testabilité (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/8540/
Show abstract Hide abstract

Abstract

Principes de base de la conception de circuits CML -- Conception des portes à niveaux multiples -- Défauts rencontrés dans les technologies bipolaires -- Pannes retrouvées dans les circuits CML -- Méthodes de test marquantes sur la détection des pannes -- Outil de caractérisation automatique de pannes -- Engin de l'outil et principes de base -- Méthodes de test adaptées aux circuits CML -- Injection de défectuosités et impact sur le comportement des circuits -- Test d'amplitude -- Puce d'évaluation des méthodes de test -- Méthodes de test évaluées par la puce -- Architecture de la puce -- Procédure de test.

Open Access document in PolyPublie
Additional Information: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/1017521975
Department: Département de génie électrique
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:05
Last Modified: 25 Aug 2021 14:59
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/8540/

Statistics

Total downloads

Downloads per month in the last year

Origin of downloads

Repository Staff Only