Étude de la défaillance des circuits bipolaires en mode courant et leur testabilité

Abstract

Principes de base de la conception de circuits CML -- Conception des portes à niveaux multiples -- Défauts rencontrés dans les technologies bipolaires -- Pannes retrouvées dans les circuits CML -- Méthodes de test marquantes sur la détection des pannes -- Outil de caractérisation automatique de pannes -- Engin de l'outil et principes de base -- Méthodes de test adaptées aux circuits CML -- Injection de défectuosités et impact sur le comportement des circuits -- Test d'amplitude -- Puce d'évaluation des méthodes de test -- Méthodes de test évaluées par la puce -- Architecture de la puce -- Procédure de test.