<  Back to the Polytechnique Montréal portal

Une enveloppe pour la norme P1500 incorporant des structures de test integré pour les systèmes sur puces

Abdelaziz Larab

Masters thesis (2006)

[img]
Preview
Published Version
Terms of Use: All rights reserved.
Download (5MB)
Cite this document: Larab, A. (2006). Une enveloppe pour la norme P1500 incorporant des structures de test integré pour les systèmes sur puces (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/8515/
Show abstract Hide abstract

Abstract

Système sur puce et les modules IP -- Structure de test du module IP -- Génération de vecteurs de test pour les SOC -- Test intégré (BiST) -- Norme IEEE P1500 -- Architectures de test des modules IP -- Architectures de test des interconnexionx entre les modules IP -- Présentation de la nouvelle architecture de test -- Architecture de la nouvelle enveloppe -- Cellules de l'enveloppe -- Registre de l'enveloppe -- Contrôle de test -- Instructions de test avec fonctionnalité BIST -- Insertion de l'architecture de test -- Simulation fonctionnelle de l'architecture de test proposée -- Chronogrammes des instructions de test sans BIST -- Délai de propagation -- Estimation du gain en surface -- Réduction du nombre de vecteurs de test déterministes.

Uncontrolled Keywords

Systèmes sur une puce -- Conception et construction; Systèmes sur une puce -- Essais; Circuits intégrés -- Vérification

Open Access document in PolyPublie
Additional Information: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/1007365903
Department: Département de génie électrique
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:05
Last Modified: 25 Aug 2021 14:59
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/8515/

Statistics

Total downloads

Downloads per month in the last year

Origin of downloads

Repository Staff Only