Mémoire de maîtrise (2006)
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Mots clés
MOS complémentaires; Circuits intégrés numériques; Pannes temporelles (Semi-conducteurs)
| Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/275811933 |
|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Directeurs ou directrices: | Abdelhakim Khouas |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7842/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2024 09:46 |
| Citer en APA 7: | Zhou, B. (2006). Evaluation of delay mismatch due to process variations in CMOS integrated circuits [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7842/ |
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