Bing Qiu, Yvon Savaria
, Meng Lu, Chunyan Wang, Claude Thibeault
Communication écrite (2002)
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Département:
ISBN:
0769518311
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2002)
Lieu de la conférence:
Vancouver, BC, Canada
Date(s) de la conférence:
2002-11-06 - 2002-11-08
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74209
ORCID
Date du dépôt:
06 mai 2026 10:26
Dernière modification:
08 oct. 2026 19:04
Citer en APA 7:
Qiu, B., Savaria, Y., Lu, M., Wang, C., & Thibeault, C. (novembre 2002). Yield modeling of a WSI telecom router architecture [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2002), Vancouver, BC, Canada. https://doi.org/10.1109/dftvs.2002.1173528
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