Isa Altoobaji, Ahmed Abuelnasr, Mostafa Amer, Mohamed Ali, Yves Audet et Ahmad Hassan
Communication écrite (2025)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 9798331532567 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/67701/ |
| Nom de la conférence: | 23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2025) |
| Lieu de la conférence: | Paris, France |
| Date(s) de la conférence: | 2025-06-22 - 2025-06-25 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/newcas64648.2025.11107175 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas64648.2025.11107175 |
| Date du dépôt: | 19 août 2025 14:00 |
| Dernière modification: | 19 août 2025 14:00 |
| Citer en APA 7: | Altoobaji, I., Abuelnasr, A., Amer, M., Ali, M., Audet, Y., & Hassan, A. (juin 2025). A Tunable and Area-Efficient Delayed Fault Detection Circuit for Voltage Monitoring Systems with 10.19% Voltage Sensitivity [Communication écrite]. 23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2025), Paris, France. https://doi.org/10.1109/newcas64648.2025.11107175 |
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