Isa Altoobaji, Ahmed Abuelnasr, Mostafa Amer, Mohamed Ali, Yves Audet
, Ahmad Hassan
Communication écrite (2025)
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Département:
ISBN:
9798331532567
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2025)
Lieu de la conférence:
Paris, France
Date(s) de la conférence:
2025-06-22 - 2025-06-25
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:67701
ORCID
Date du dépôt:
19 août 2025 14:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:28
Citer en APA 7:
Altoobaji, I., Abuelnasr, A., Amer, M., Ali, M., Audet, Y., & Hassan, A. (juin 2025). A Tunable and Area-Efficient Delayed Fault Detection Circuit for Voltage Monitoring Systems with 10.19% Voltage Sensitivity [Communication écrite]. 23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2025), Paris, France. https://doi.org/10.1109/newcas64648.2025.11107175
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