Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits

Claude Thibeault, Yvon Savaria et Jean-Louis Houle

Article de revue (1992)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/55314/
Titre de la revue:	Journal of Electronic Testing (vol. 3, no 1)
Maison d'édition:	Springer Science+Business Media
DOI:	10.1007/bf00159834
URL officielle:	https://doi.org/10.1007/bf00159834
Date du dépôt:	03 oct. 2023 10:23
Dernière modification:	05 avr. 2024 12:02

Citer en APA 7:	Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1992). Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits. Journal of Electronic Testing, 3(1), 93-102. https://doi.org/10.1007/bf00159834
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