Claude Thibeault, Yvon Savaria
, Jean-Louis Houle
Article de revue (1992)
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Titre de la revue
:
Journal of Electronic Testing
(
vol.
3
,
no
1
)
Maison d'édition:
Springer Science+Business Media
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:55314
ORCID
Date du dépôt:
03 oct. 2023 10:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:14
Citer en APA 7:
Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1992). Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits. Journal of Electronic Testing, 3(1), 93-102. https://doi.org/10.1007/bf00159834
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