Claude Thibeault, Yvon Savaria
et Jean-Louis Houle
Article de revue (1992)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/55314/ |
| Titre de la revue: | Journal of Electronic Testing (vol. 3, no 1) |
| Maison d'édition: | Springer Science+Business Media |
| DOI: | 10.1007/bf00159834 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/bf00159834 |
| Date du dépôt: | 03 oct. 2023 10:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:46 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1992). Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits. Journal of Electronic Testing, 3(1), 93-102. https://doi.org/10.1007/bf00159834 |
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