Yves Blaquière, Yan Basile-Bellavance, Safa Berrima, Yvon Savaria
Communication écrite (2014)
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Département:
ISBN:
9781479934324
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014)
Lieu de la conférence:
Melbourne, VIC, Australia
Date(s) de la conférence:
2014-06-01 - 2014-06-05
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52359
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:10
Citer en APA 7:
Blaquière, Y., Basile-Bellavance, Y., Berrima, S., & Savaria, Y. (juin 2014). Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). https://doi.org/10.1109/iscas.2014.6865695
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