Yves Blaquiere, Yan Basile-Bellavance, Safa Berrima et Yvon Savaria
Communication écrite (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52359/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014) |
| Lieu de la conférence: | Melbourne, VIC, Australia |
| Date(s) de la conférence: | 2014-06-01 - 2014-06-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iscas.2014.6865695 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.2014.6865695 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:07 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:57 |
| Citer en APA 7: | Blaquiere, Y., Basile-Bellavance, Y., Berrima, S., & Savaria, Y. (juin 2014). Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). https://doi.org/10.1109/iscas.2014.6865695 |
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