Optimization of Small-Delay Defects Test Quality by Clock Speed Selection and Proper Masking Based on the Weighted Slack Percentage

Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria, Claude Thibeault

Article de revue (2020)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/45098/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems ( vol. 28 , no 3 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/tvlsi.2019.2949037
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tvlsi.2019.2949037
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:45098
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:58
Citer en APA 7:
Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (2020). Optimization of Small-Delay Defects Test Quality by Clock Speed Selection and Proper Masking Based on the Weighted Slack Percentage. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 28(3), 764-776. https://doi.org/10.1109/tvlsi.2019.2949037

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