Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria
et Claude Thibeault
Article de revue (2020)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/45098/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems (vol. 28, no 3) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tvlsi.2019.2949037 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tvlsi.2019.2949037 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:00 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:44 |
| Citer en APA 7: | Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (2020). Optimization of Small-Delay Defects Test Quality by Clock Speed Selection and Proper Masking Based on the Weighted Slack Percentage. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 28(3), 764-776. https://doi.org/10.1109/tvlsi.2019.2949037 |
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