Multi-PVT-Point Analysis and Comparison of Recent Small-Delay Defect Quality Metrics

Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria, Claude Thibeault

Article de revue (2020)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/44603/
Titre de la revue :
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications ( vol. 35 , no 6 )
Maison d'édition:
Springer
DOI:
10.1007/s10836-019-05832-w
URL officielle:
https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:44603
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:57
Citer en APA 7:
Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (2020). Multi-PVT-Point Analysis and Comparison of Recent Small-Delay Defect Quality Metrics. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 35(6), 823-838. https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w

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