Multi-PVT-Point Analysis and Comparison of Recent Small-Delay Defect Quality Metrics

Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria et Claude Thibeault

Article de revue (2020)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/44603/
Titre de la revue:	Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (vol. 35, no 6)
Maison d'édition:	Springer
DOI:	10.1007/s10836-019-05832-w
URL officielle:	https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:43

Citer en APA 7:	Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (2020). Multi-PVT-Point Analysis and Comparison of Recent Small-Delay Defect Quality Metrics. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 35(6), 823-838. https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
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