On the susceptibility of SRAM-Based FPGA routing network to delay changes induced by ionizing radiation

Mostafa Darvishi, Yves Audet, Yves Blaquiere, Claude Thibeault, Simon Pichette

Article de revue (2019)

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Titre de la revue :
IEEE Transactions on Nuclear Science ( vol. 66 , no 3 )
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43121
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Darvishi, M., Audet, Y., Blaquiere, Y., Thibeault, C., & Pichette, S. (2019). On the susceptibility of SRAM-Based FPGA routing network to delay changes induced by ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(3), 643-654. https://doi.org/10.1109/tns.2019.2898894

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