Mostafa Darvishi, Yves Audet, Yves Blaquiere, Claude Thibeault, Simon Pichette
Article de revue (2019)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(
vol.
66
,
no
3
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43121
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Darvishi, M., Audet, Y., Blaquiere, Y., Thibeault, C., & Pichette, S. (2019). On the susceptibility of SRAM-Based FPGA routing network to delay changes induced by ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(3), 643-654. https://doi.org/10.1109/tns.2019.2898894
Statistiques
Dimensions
