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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de Yves Blaquiere figurant sur cette page.
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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur Yves Blaquiere. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Bensalem, H., Blaquiere, Y., & Savaria, Y. (2020). In-FPGA instrumentation framework for openCL-based designs. IEEE Access, 8, 212979-212994. Disponible
Darvishi, M., Audet, Y., Blaquiere, Y., Thibeault, C., & Pichette, S. (2019). On the susceptibility of SRAM-Based FPGA routing network to delay changes induced by ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(3), 643-654. Lien externe
Hussain, W., Blaquiere, Y., & Savaria, Y. (2015). An interface for open-drain bidirectional communication in field programmable interconnection networks. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 62(10), 2465-2475. Lien externe
Laflamme-Mayer, N., Kowarzyk, G., Blaquiere, Y., Savaria, Y., & Sawan, M. (2018). A Defect-Tolerant Reusable Network of DACs for Wafer-Scale Integration. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 27(2), 304-315. Lien externe
