Nicolas Laflamme-Mayer, Gilbert Kowarzyk, Yves Blaquiere, Yvon Savaria
, Mohamad Sawan
Article de revue (2018)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(
vol.
27
,
no
2
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:41897
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:52
Citer en APA 7:
Laflamme-Mayer, N., Kowarzyk, G., Blaquiere, Y., Savaria, Y., & Sawan, M. (2018). A Defect-Tolerant Reusable Network of DACs for Wafer-Scale Integration. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 27(2), 304-315. https://doi.org/10.1109/tvlsi.2018.2876458
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