Mostafa Darvishi, Yves Audet
, Yves Blaquiere, Claude Thibeault et Simon Pichette
Article de revue (2019)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43121/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 66, no 3) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tns.2019.2898894 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tns.2019.2898894 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:07 |
| Citer en APA 7: | Darvishi, M., Audet, Y., Blaquiere, Y., Thibeault, C., & Pichette, S. (2019). On the susceptibility of SRAM-Based FPGA routing network to delay changes induced by ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(3), 643-654. https://doi.org/10.1109/tns.2019.2898894 |
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