Safa Berrima, Yves Blaquière et Yvon Savaria
Article de revue (2018)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39574/ |
Titre de la revue: | Integration (vol. 62) |
Maison d'édition: | Elsevier |
DOI: | 10.1016/j.vlsi.2018.02.010 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:35 |
Citer en APA 7: | Berrima, S., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (2018). Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits. Integration, 62, 159-169. https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010 |
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