Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits

Safa Berrima, Yves Blaquière, Yvon Savaria

Article de revue (2018)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/39574/
Titre de la revue :
Integration ( vol. 62 )
Maison d'édition:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.vlsi.2018.02.010
URL officielle:
https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39574
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:
29 oct. 2026 11:21
Citer en APA 7:
Berrima, S., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (2018). Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits. Integration, 62, 159-169. https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010

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