Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits

Safa Berrima, Yves Blaquière et Yvon Savaria

Article de revue (2018)

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Département:	Département de génie électrique
Centre de recherche:	GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/39574/
Titre de la revue:	Integration (vol. 62)
Maison d'édition:	Elsevier
DOI:	10.1016/j.vlsi.2018.02.010
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:	08 avr. 2025 07:03

Citer en APA 7:	Berrima, S., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (2018). Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits. Integration, 62, 159-169. https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010
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