Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Syed Rafay Hasan et Yvon Savaria
Communication écrite (2011)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
ISBN: | 9781457718441 |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39551/ |
Nom de la conférence: | 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011) |
Lieu de la conférence: | Beirut, Lebanon |
Date(s) de la conférence: | 2011-12-11 - 2011-12-14 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/icecs.2011.6122287 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122287 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:19 |
Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., Hasan, S. R., & Savaria, Y. (décembre 2011). SEGP-finder: Tool for identification of soft error glitch-propagating paths at gate level [Communication écrite]. 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011), Beirut, Lebanon. https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122287 |
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