Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Article de revue (2017)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38638/ |
| Titre de la revue: | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (vol. 33, no 5) |
| Maison d'édition: | Springer |
| DOI: | 10.1007/s10836-017-5682-9 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/s10836-017-5682-9 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:23 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (2017). Formal Methods Based Synthesis of Single Event Transient Tolerant Combinational Circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 33(5), 607-620. https://doi.org/10.1007/s10836-017-5682-9 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
