Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2015)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781467379052
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015)
Lieu de la conférence:
Athena Pallas, Greece
Date(s) de la conférence:
2015-07-06 - 2015-07-08
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36185
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juillet 2015). Efficient Multilevel Formal Analysis and Estimation of Design Vulnerability to Single Event Transients [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece (6 pages). https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229818
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