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Efficient Multilevel Formal Analysis and Estimation of Design Vulnerability to Single Event Transients

Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria

Communication écrite (2015)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/36185/
Nom de la conférence: 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015)
Lieu de la conférence: Athena Pallas, Greece
Date(s) de la conférence: 2015-07-06 - 2015-07-08
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/iolts.2015.7229818
URL officielle: https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229818
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:06
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:20
Citer en APA 7: Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juillet 2015). Efficient Multilevel Formal Analysis and Estimation of Design Vulnerability to Single Event Transients [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece (6 pages). https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229818

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