Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2015)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781467379052 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36185/ |
| Nom de la conférence: | 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015) |
| Lieu de la conférence: | Athena Pallas, Greece |
| Date(s) de la conférence: | 2015-07-06 - 2015-07-08 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iolts.2015.7229818 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229818 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:20 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juillet 2015). Efficient Multilevel Formal Analysis and Estimation of Design Vulnerability to Single Event Transients [Communication écrite]. 21st International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2015), Athena Pallas, Greece (6 pages). https://doi.org/10.1109/iolts.2015.7229818 |
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