Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria
, Claude Thibeault
Communication écrite (2016)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781467384544
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
34th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2016)
Lieu de la conférence:
Las Vegas, Nevada
Date(s) de la conférence:
2016-04-25 - 2016-04-27
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:35596
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:25
Citer en APA 7:
Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (avril 2016). WeSPer: a flexible small delay defect quality metric [Communication écrite]. 34th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2016), Las Vegas, Nevada (6 pages). https://doi.org/10.1109/vts.2016.7477266
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