Omar Al-Terkawi Hasib, Yvon Savaria
et Claude Thibeault
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/35596/ |
| Nom de la conférence: | 34th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2016) |
| Lieu de la conférence: | Las Vegas, Nevada |
| Date(s) de la conférence: | 2016-04-25 - 2016-04-27 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/vts.2016.7477266 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vts.2016.7477266 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:28 |
| Citer en APA 7: | Hasib, O. A.-T., Savaria, Y., & Thibeault, C. (avril 2016). WeSPer: a flexible small delay defect quality metric [Communication écrite]. 34th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2016), Las Vegas, Nevada (6 pages). https://doi.org/10.1109/vts.2016.7477266 |
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