Ghaith Bany Hamad, S. R. Hasan, O. A. Mohamed, Yvon Savaria
Article de revue (2015)
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Titre de la revue
:
Microelectronics Reliability
(
vol.
55
,
no
1
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:34148
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:22
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Hasan, S. R., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2015). Characterizing, modeling, and analyzing soft error propagation in asynchronous and synchronous digital circuits. Microelectronics Reliability, 55(1), 238-250. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2014.09.025
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