G. B. Hamad, S. R. Hasan, O. A. Mohamed et Yvon Savaria
Article de revue (2015)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/34148/ |
| Titre de la revue: | Microelectronics Reliability (vol. 55, no 1) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.microrel.2014.09.025 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2014.09.025 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:25 |
| Citer en APA 7: | Hamad, G. B., Hasan, S. R., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2015). Characterizing, modeling, and analyzing soft error propagation in asynchronous and synchronous digital circuits. Microelectronics Reliability, 55(1), 238-250. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2014.09.025 |
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