Claude Thibeault, Yvon Savaria
et Jean-Louis Houle
Article de revue (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32811/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computers (vol. 43, no 6) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/12.286302 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/12.286302 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 06 mai 2024 16:21 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1994). A fast method to evaluate the optimum number of spares in defect-tolerant integrated-circuits. IEEE Transactions on Computers, 43(6), 687-697. https://doi.org/10.1109/12.286302 |
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