C. Thibeault, Yvon Savaria
et Jean-Louis Houle
Article de revue (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31691/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computers (vol. 44, no 5) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/12.381962 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/12.381962 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 06:52 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1995). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated-circuits. IEEE Transactions on Computers, 44(5), 724-728. https://doi.org/10.1109/12.381962 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
