A. Abderrahman, E. Cerny et Bozena Kaminska
Article de revue (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31599/ |
| Titre de la revue: | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) (vol. 9, no 1-2) |
| Maison d'édition: | Springer |
| DOI: | 10.1007/bf00137565 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/bf00137565 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (1996). Optimization-based multifrequency test generation for analog circuits. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 9(1-2), 59-73. https://doi.org/10.1007/bf00137565 |
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